三星电子近日对外公布其尖端制程研发进度,确认采用Gate-All-Around晶体管结构的2纳米工艺已完成首轮掩膜版流片。该架构通过全环绕栅极设计有效抑制了量子隧穿效应,理论能效比提升30以上。公司规划于明年上半年启动客户风险试产,首批目标锁定旗舰智能手机SoC及部分车规级处理器项目。 关键要点2nm GateAllAround工艺成功流片理论能效比预计提升百分之三十明年上半年启动风险试产锁定旗舰SoC 返回列表 上一篇 下一篇